本系列可程式高低溫冷熱沖擊試驗箱主要用於測試材料對極高溫或極低溫的抵抗力，這種情況類似於不連續(xù)地處於高溫或低溫中的情形，冷熱衝擊試驗能使各種物品在最短的時間內完成測試。熱震中產生的變化或物理傷害是熱脹冷縮改變或其他物理性值的改變而引起的，採用PID系統，各類產品才能獲得*之信賴。熱震的效果包括成品裂開或破層及位移等所引起的電化學變化，PID系統的全數位元自動控制，將使您操作簡易。

高低溫冷熱沖擊試驗箱廣泛用於電子電器零元件、自動化零部件、通訊元件

汽車 配件、金屬、化學材料、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航太、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳

電子晶片IC、半導體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對高、低溫的反復抵拉

力及產品於熱脹冷縮產出的化學變化或物理傷害，可確認產品的品質,從精密的IC到重機械

的元件，可作為其產品改進的依據或參考。

符合標準

GJB360.7-87溫度沖擊試驗;

GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗;

SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗箱--一箱式;

SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗箱--二箱式;

滿足標準IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化;

GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導則;

GB/T 2423.22-2002溫度變化;